介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀硅油介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀為160Hzi介電常數(shù)測試儀，該儀器采用多種先進技術(shù)，包括雙雙掃描、雙測試要素輸入、雙數(shù)碼化協(xié)調(diào)等技術(shù)。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀主要技術(shù)參數(shù)如下：

1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

2. 信號源頻率精度3×10-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字；信號頻率覆蓋比11000：1；采樣精度12BIT（高精度A/D采樣）；

3．Q值測量范圍：1～1000自動/手動量程；Q值分辨率0.1，4位有效數(shù)字；Q值測量工作誤差＜5%；

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

5．電感測量范圍：1nH～140mH，分辨率0.1nH，自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能；

6．電容直接測量范圍：1pF～25nF，分辨率0.1pF，準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；

7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF（一體鍍銀成型，精度高）；帶步進馬達，電容自動搜索；

8． 材料測試厚度：0.1mm~10mm；

9． 合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000；

10．LCD顯示參數(shù)F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到160MHz。

LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進技術(shù)：

雙掃描技術(shù)——測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

雙測試要素輸入——測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧——數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動化測量技術(shù)——對測試件實施Q值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示——數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源——確保信源的高保真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。